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Base documentaire


  1. Device reliability.

    Article, Congrès - En anglais

    ASAIO. Annual meeting. New Orleans LA (USA), 1993/04.

    Mots-clés Pascal : Equipement biomédical, Appareil, Fiabilité, Industrie, Recommandation

    Mots-clés Pascal anglais : Biomedical equipment, Apparatus, Reliability, Industry, Recommendation

    Logo du centre Notice produite par :
    Inist-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et Technique

    Cote : 94-0244577

    Code Inist : 002B30A11. Création : 199406.