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Base documentaire


  1. Contrast-sensitivity loss in a group of former microelectronics workers with normal visual acuity.

    Article - En anglais

    Mots-clés Pascal : Déficit, Trouble vision, Oeil pathologie, Complication, Exploration, Homme, Contraste, Sensibilité spectrale, Travailleur, Fabrication microélectronique, Exposition professionnelle, Médecine travail

    Mots-clés Pascal anglais : Deficiency, Vision disorder, Eye disease, Complication, Exploration, Human, Contrast, Spectral sensitivity, Worker, Microelectronic fabrication, Occupational exposure, Occupational medicine

    Logo du centre Notice produite par :
    Inist-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et Technique

    Cote : 92-0006864

    Code Inist : 002B09K. Création : 199406.