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Base documentaire


  1. Tiered exposure-assessment strategy in the semiconductor health study.

    Article - En anglais

    Mots-clés Pascal : Semiconducteur, Teneur air ambiant, Salle blanche, Industrie, Homme, Exposition professionnelle, Femme, Gestation pathologie, Silicium, Epidémiologie, Californie, Etats Unis, Amérique du Nord, Amérique, Fertilité, Stérilité, Glyme, Toxicité, Médecine travail, Hygiène travail, Reproduction pathologie, Pastille électronique, Lieu travail, Travail posté

    Mots-clés Pascal anglais : Semiconductor materials, Ambient air concentration, Clean room, Industry, Human, Occupational exposure, Woman, Pregnancy disorders, Silicon, Epidemiology, California, United States, North America, America, Fertility, Sterility, Glyme, Toxicity, Occupational medicine, Occupational hygiene, Reproduction diseases, Wafer, Work place, Shift work

    Logo du centre Notice produite par :
    Inist-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et Technique

    Cote : 96-0035177

    Code Inist : 002B03L06. Création : 01/03/1996.